ٹرپل ویو لینتھ ایکرومیٹک ایف تھیٹا لینس

مصنوعات کی سفارش | ٹرپل ویو لینتھ ایکرومیٹک ایف تھیٹا لینس

معیاری لیزر اسکین لینز عام طور پر ایک واحد طول موج کے لیے ڈیزائن کیے جاتے ہیں — ایک مختلف لیزر پر سوئچ کرنے کے نتیجے میں فوکل شفٹ، دھندلے دھبے، اور دھندلا نشانات ہوتے ہیں۔ ڈوئل بینڈ اسکین لینس صرف دو طول موج کے درمیان رنگین خرابی کو درست کرسکتے ہیں۔

3-Wavelength Achromatic Scan Lens ایک خصوصی سکیننگ فوکس کرنے والا لینس ہے جو بیک وقت تین الگ الگ لیزر طول موجوں کے لیے رنگین خرابی کو ختم کرتا ہے۔ تینوں طول موج ایک ہی آپٹیکل سیٹ کا اشتراک کرتی ہیں۔ عمل کے درمیان سوئچ کرنے کے لیے صرف لیزر ماخذ کو تبدیل کرنے کی ضرورت ہوتی ہے، لینس کو الگ کرنے یا دوبارہ فوکس کرنے کی ضرورت نہیں ہوتی ہے۔ یہ ملٹی پروسیس کمپوزٹ پروسیسنگ سسٹم کے لیے مثالی بناتا ہے۔

سب سے عام صنعتی طول موج کا مجموعہ: 355 nm (UV)، 532 nm (سبز) اور 1064 nm (IR)۔

بنیادی آپٹیکل کارکردگی کے فوائد

1. مسلسل جگہ کے معیار کے ساتھ پارفوکل تھری ویو لینتھ الائنمنٹ

355/532/1064 nm (یا حسب ضرورت RGB، UV-VIS-SWIR بینڈ کے امتزاج) کے لیے بیک وقت رنگین خرابی کی اصلاح۔ تینوں طول موجوں کے فوکل طیارے ایک دوسرے کے ساتھ ملتے ہیں، پورے سکیننگ فیلڈ میں مستقل جگہ کی گول پن کو یقینی بناتے ہیں، بغیر کسی محوری ڈیفوکس یا کنارے کی رنگین مسخ کے۔

2. کم سے کم پوزیشننگ کی خرابی کے ساتھ جامع پروسیسنگ کے لیے اعلیٰ درستگی

رنگین خرابی کے علاوہ، میدان کی گھماؤ، مسخ، کروی خرابی، اور کوما کو بھی بہتر بنایا گیا ہے۔ اعلی لکیری ایف تھیٹا اسکیننگ کی درستگی مخصوص ورک پیس کی ضروریات کی بنیاد پر طول موج کے انتخاب کو قابل بناتی ہے۔ حصوں کی کثیر طول موج کی جامع پروسیسنگ مجموعی طور پر پروسیسنگ کی درستگی کو نمایاں طور پر بہتر کرتی ہے۔

3. کم فیلڈ گھماؤ اور بہترین فل فیلڈ سپاٹ یکسانیت

درخواست کے منظرنامے۔

343 nm نامیاتی مواد کو ہٹانے کے لیے جیسے کہ photoresist؛ پاسیویشن تہوں سے دھات یا پولی سیلیکون کو ہٹانے کے لیے 515 nm؛ اور Passivation تہوں سے ITO کو ہٹانے کے لیے 1030 nm۔ پینل ڈسپلے کی مرمت اور معائنہ کی ایپلی کیشنز کے لیے مثالی۔

پروڈکٹ کے پیرامیٹرز：

اپنی مرضی کے مطابق ڈیزائن اصل ضروریات کے مطابق دستیاب ہے۔